威尔量仪(WALE) SP3200 轮廓测量仪

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产品描述

SP3200 轮廓测量仪
轮廓仪测量原理为直角坐标测量法，即通过X轴、Z轴传感器，测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点，通过电器组件，将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机，软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理，标注所需的工程测量项目。

SP3200 轮廓测量仪产品特点：
★ 高性能、高配置轮廓测量一体机。部分型号增加了立柱随动功能，自动标注、间断测量。
★ Z1轴采用高精度数字式线性传感器，测量范围大、精度高、稳定。
★ 采用高速并行数据采集单元，硬件触发、硬件高速采样，无延时。足够密集的数据源及稳定的数据源。
★ 为后期的数据处理、计算提供最有力的保障。
★ 大量程设计，杠杆比仅为1：2.2，最大限度保持了传感器的原有精度。
★ Z轴传感器整体结构无任何弹性元件，从而保证无论测针处于均任何位置测力是衡定的。
★ 软件自主研发，标注、操作方式与CAD一致，软件功能强大，有自动抬起、自动回退及捕捉功能。
★ 对测针进行补偿。
★ 拟合数据自动保存，便于多次标注。
★ 出厂经激光干涉仪校正。

SP3200 轮廓测量仪测量项目：
各种类型工件表面的线要素、点要素，点与点的距离、线与线的距离，各要素的位置度包括：距离、平行度、垂直度、角度、槽深、槽宽、半径，可进行直线度分析，凸度分析、轮廓度分析。

SP3200 轮廓测量仪应用行业：
机械加工、汽车、摩托车、精密五金、精密工具、刀具、模具、光学元件等行业，适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室、车间

SP3200 轮廓仪产品配置：

型号		SP3200
X1轴	测量范围	150mm
	分辨率	0.05μm
	检测方法	莫尔光栅
	驱动速度	0.1 0.2,0.5,1mm/s 自定义
	测量方向	向后
	直线度	1.2μm/100mm
	指示精度	±(1.5+2L/100)μm
Z1轴	测量范围	40mm
	分辨率	0.02μm
	检测方法	光栅传感器
	指示精度	±(2+\|2H\|/40)μm
	测针上/下运动	弧形运动
	测针方向	向下
	测针抬起	自动
	测针接触	自接触
	测针针尖	25μm硬质合金针尖
Ｚ立柱	行程	400mm
	方式	立柱随动
	光栅分辨率	0.05μm
	光栅类型	反射式
夹具	综合平台	Ｙ向调整、转角调整
夹具	平口钳	４寸正弦
基础	材质	天然大理石
工作	尺寸	74054595
平台	自重	≧98.5kg
仪器	材质	镀锌板
抗振	尺寸	1040754726
架子	自重	≧158kg
测臂	长度	200mm
测臂	直径	8mm
测针	类型	单切面
	长度	32mm
	直径	4mm
*粗糙度		可选装粗糙度测量模块
*CNC功能		可选装XY工作平台、X加长平台、转角平台、自动调整平

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