活动资讯
泰克及旗下吉时利品牌，提供从晶元到系统的专业半导体测试方案。包括半导体材料测试平台、半导体工艺测试平台、芯片设计测试平台、芯片验证测试平台等。
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半导体材料测试平台包括：
针对晶元级半导体材料或半导体器件，泰克提供半导体参数分析仪（4200A-SCS），用于测试分离器件、材料的三大特性：1、直流特性，如IV曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线等； 2、电容电压特性CV曲线（CVU）；3脉冲特性测试(PMU)，支持超高速脉冲测试。支持以上特性的多通道同步测试。
针对高功率半导体材料或半导体器件，泰克提供高功率晶体管参数曲线图示仪（2600B-PCT），或称晶体管曲线追踪仪，支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。
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半导体工艺测试平台包括：
针对大规模测试，如晶元上多点测试，复杂系统的自动化测试，泰克提供自动化半导体参数测试系统（S500/S530/S540），支持各类晶元Wafer和MEMS的自动化、半自动化参数测试。广泛用于晶元的失效分析测试（FA）,质量控制测试（QA），可靠性分析测试（RA）。其中S540支持高压功率半导体自动化参数测试。
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芯片设计测试平台包括：
针对高速串行芯片设计，泰克提供完整的发送端测试解决方案，配备高带宽实时示波器、各种探头、一致性测试夹具、一致性测试软件等，支持的标准覆盖各类常用标准，包括：PCIE/DDR/USB/ETH等等。
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芯片验证测试平台包括：
针对高速串行芯片设计，泰克提供完整的接收端容限测试解决方案，配备高速误码率分析仪，及一致性测试夹具、一致性测试软件等，支持的标准覆盖各类常用标准。
推荐产品
SMU源测量单元
为用户灵活、精准的同时提供和测量电流/电压
4200A-SCS参数测试仪
用于测试分离器件、材料的直流特性（IV/IT/VT/RT曲线），电容电压特性CV曲线和脉冲特性测试(PMU)，支持超高速脉冲测试
2600-PCT高功率器件参数曲线追踪仪
支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试
S500/S530/S540自动化半导体测试系统
广泛用于新一代材料半导体的参数特性检测，用于失效分析测试（FA）,质量控制测试（QA），可靠性分析测试（RA）
MSO6系列示波器
低噪声，高精度，超大屏幕，用于新一代USB，DDR和PCIe测试
DPO/MSO70000示波器
最高可达70GHz带宽，完整还原高速信号，广泛应用于数据
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