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HIOKI日置EIS测试系统CN011
目前EIS测试的难点：
1.激励电流大对电堆影响，激励电流小无法测得小信号
2.电流相位精度·偏差影响测试结果
3.大功率负载噪声过大影响测试
我司有针对性的开发了EIS测试系统CN011，解决行业测试痛点问题，提供真实、可信、稳定、兼容的EIS测试平台。
产品特点
①高精度可溯源
可稳定测量0.1mΩ的单电芯。可提供国标可溯源测量值（出厂选件）。
②多通道测试
可拓展多通道方案，可以覆盖多节电芯同步扫频测试的需求，便于掌握不同位置电芯的阻抗情况。
③扫频范围广
HIOKI日置系统的信号采集单元由一台设备完成同步测试。可满足0.01Hz~20kHz的扫频范围。
④信号抗噪技术强
在保证本体CN011静态测试精度的同时，通过HIOKI日置独有的信号处理技术规避干扰信号。
⑤测量范围宽广
HIOKI日置系统的信号发生单元，信号采集由一台设备的不同模块完成，模块通道间绝缘且满足最大1000V、1000A的测试。
⑥数据解析回路拟合
在保证本体CN011测量精度的同时，可对测量所得数据进行分析统计，配套等效回路拟合软件可对燃料电池的等效回路进行拟合。
软件功能
提供多种测试模式（Cole-Cole图扫频测试，VI特性，定电流连续测量）
实测数据
扫频测试
多通道电芯检测扫频
同时进行整堆、多片、单片测试
测试系统架构
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